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目标应用

  • 测量温度
  • 残余应力
  • 剪切模量计
  • 传感器仪表
  • 其它

结构类型

  • 电阻
  • 光纤
  • 半导体（压阻式）

应变片布置

  • 单轴
  • 矩形
  • 隔离膜
  • 双线性
  • 线性可焊
  • T 形花环
  • 三角花环
  • 直角应变花
  • 剪切 / 扭矩
  • 残余应力模式花环
  • 其它

应变系数

标称电阻

  • 120
  • 350
  • 540
  • 700
  • 1000
  • 其它

终端选择

  • 引线
  • 焊接片
  • 连接器
  • 带状导线
  • FC/APC 接口
  • 其它

工作温度

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  • Trilion Quality Systems 应变传感器 总共筛选出2条产品数据 展开查看

    • Trilion Quality Systems ESPI 应变片

      三维激光ESPI系统（激光全息）使用激光干涉法非常精确地测量平面内外的位移和应变。它被广泛应用于从疲劳试验到一般应变测量和分析。干涉法ESPI非常适合测量最小的三维位移和平面应变，分辨率约为10纳米或每米1微米。，ESPI系统包括一个高质量的数字CCD相机，计算机控制快门时间，一个或多个激光源，一种计算机控制的相移装置、所需的光学和电子驱动器以及数据采集和处理系统，集成在PC机中。激光被引导到被测物体上，相机捕获产生的散斑图像。物体在亚微米范围内的变形改变了CCD相机采集到的图像。使用适当的图像处理，两幅图像之间的差异显示为黑色干涉条纹（实时查看实际变形）。，常见用途包括：，-挠度、应变、热膨胀和残余应力测量-FEA验证-确定线性行为，甚至脆性材料的线性行为-表征异质材料-表征两种不同材料的过渡范围-蜂窝和夹层结构的质量控制

    • Trilion Quality Systems TRITOP 应变片

      TRITOP是一个光学坐标测量系统。这项移动技术旨在定义标记和可见特征的精确三维位置，并为大型物体的质量控制、夹具和固定装置的验证以及静态变形分析提供时效的现场测量。用TRITOP系统测量的坐标可以与物体的CAD数据进行比较。从标志物和特征物的位移出发，定义了相应物体的运动和变形。利用TRITOP摄影测量系统，可以高精度、灵活地测量标志物和物体的角、边、孔等特征物的三维坐标。一个人只需要一台高分辨率相机和一台笔记本电脑。不需要其他硬件，如机械测量机、过渡装置、机器人或大型装置，-风洞模型测量-大型结构的热变形-大型结构变形-悬架系统分析-复杂运动模式-生物力学和运动学

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