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SC2010分立器件测试系统/晶体管图示仪在元器件来料检验(IQC)中的应用
SC2010分立器件测试系统/晶体管图示仪是元器件来料检验(IQC)常用设备,功能强大,测试种类多参数全还能扫描曲线
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七位半数字多用表AMC93200:高精度测量的全能选手,赋能半导体测试新高度
作为国内首款七位半数字多用表,AMC93200不仅填补了国产高端仪器的空白,更通过与SC2010分立器件测试系统、SC2020晶体管参数测试仪的深度协同,为半导体行业提供了更高效、更精准的测试方案。立即咨询,开启高精度测量新体验!
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SC2010分立器件测试系统与国内其它测试系统对比表
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