产品介绍
LET-2000D系列是力钛科公司开发出的满足IEC60747-8/9标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试,LET-2000D有着较高的系统带宽和测试精度,可以有效准确的测量出实际的器件参数。
硬件优势>>>
■ 采用LECROY全球最先进12bit示波器,测试结果更准确
■ 高带宽的电压探测,能满足SIC/GAN的测量要求
■ 可以满足上/下管同时测试,避免频繁连接探头
■ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
■ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件
■ 可根据客户需求定制
■ 可以增加器件的温度特性测试
■ 硬件可以升级自动机械手
软件特点>>>
■ 测量参数齐全:开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩测试
■ 支持器件类型多:单管/模块,MOSFET、IGBT
■ 离线数据分析:既可以在线测量,也可
■ 以记录数据离线分析
■ 测试方式:单脉冲、多脉冲
■ 可灵活设置测试项目
■ 软件具有较强的扩展能力
■ 测量项目及器件支持扩展
参数系统>>>
| 名称 | 说明 |
| 采集带宽 | 500 M Hz/1 GHz |
| 采样率 | 10 Gsa/S |
| 系统电压 | DC—2000V/6000V |
| 电压输出精度 | ±0.2%最⼤量程 |
| 最大电流 | 300A—3000A |
| 短路电流 | 2000A—10000A |
| 测量精度 | 2%量程（典型值） |
| 驱动电压范围 | ±20V |
| 测量参数 | Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等 |
| 测量项⽬ | 开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩能量测试 |
| 测量器件 | 单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD |
| 脉宽 | 20ns-1000us. |
| 脉冲数 | 单脉冲、2-5脉冲 |
| 测量标准 | IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173 |
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