| 探测率:0.63E08  cmHz^(½)/W | 测量范围:-30 to 100 C | 响应时间:0.5 seconds | 
| 响应率:125 V/W | 储存温度:-40 to 125 C | 芯片尺寸:11.5mm x 1.5mm | 
| 封装形式:8英寸蓝膜包装(切片/未切片,可选) | 敏感面积:芯片1:1.15 mm2 | 热电堆温度系数:0.06 % | 
| 热电堆电阻:90 to150 kohms | 
| 探测率:0.63 10^8cmHz^(½)/W | 测量范围:-30  to 100 C | 响应时间:0.5 s | 
| 响应率:125 V/W | 储存温度:-40 to 125 C | 芯片尺寸:1.5mm×1.5mm | 
| 封装形式:8英寸蓝膜包装(切片/未切片,可选) | 敏感面积:芯片1:1.10 mm2 | 热电堆温度系数:0.06 %/℃ | 
| 热电堆电阻:70 kΩ (Min.) 120 kΩ (Typ.) 200 kΩ (Max.) | 
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