表面分析技术是一种统称，指利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。
为分享表面分析技术及应用研究的新进展，推动表面分析技术与应用领域的发展，仪器信息网于2023年11月14-15日举办了“第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会”，大会为期2天，共设置光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用等其他表面分析技术与应用共4个专场，吸引了近千名行业相关人士线上参会并积极讨论。
为响应广大参会者的需求，报告回放视频已全部上线，欢迎大家点击回看，温故知新。
第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会 | ||
回放视频 | 报告题目 | 演讲嘉宾 |
光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用专场 | ||
/ | 原位电子能谱技术的应用 | 姚文清 清华大学/国家电子能谱中心 研究员/副主任 |
点击观看 | XPS在材料研究中的应用 | 程斌 北京化工大学 研究员/副主任 |
点击观看 | XPS在纳米薄膜厚度测量中的应用 | 刘芬 中国科学院化学研究所 副研究员 |
点击观看 | 同步辐射光电子能谱技术及其应用 | 朱俊发 中国科学技术大学 教授 |
扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用专场 | ||
点击观看 | 纳米测量技术国际标准化工作的意义探讨 | 黄文浩 中国科学技术大学 教授 |
点击观看 | 基于扫描探针的原子制造技术的探索 | 陆兴华 中国科学院物理研究所 研究员 |
点击观看 | 多频静电力显微镜电学性质动态测量技术 | 钱建强 北京航空航天大学 教授 |
/ | 日立AFM在表面分析方面的应用 | 刘金荣 日立科学仪器（北京）有限公司 高级工程师 |
点击观看 | 扫描探针显微镜在神经形态器件中的应用研究 | 惠飞 郑州大学材料科学与工程学院 研究员 |
点击观看 | 原子力显微镜在高分子表征中的应用 | 张彬 郑州大学 教授 |
电子探针/原子探针技术与应用专场 | ||
点击观看 | 电子探针分析在关键金属矿产研究中的应用 | 陈振宇 中国地质科学院矿产资源研究所 研究室主任/研究员 |
点击观看 | 三维原子探针分析技术与应用 | 沙刚 南京理工大学 教授 |
点击观看 | 原子探针层析技术原理及其在镍基合金中的应用 | 李慧 上海大学 副研究员 |
点击观看 | 电子探针在材料科学中的应用 | 刘树帅 山东大学材料学院材料表征与分析中心 副主任 |
二次离子质谱、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用专场 | ||
/ | 二次离子质谱（SIMS）质量分辨的测量 | 李展平 清华大学分析中心 高级工程师 |
点击观看 | 拉曼光谱分析技术和扫描电镜分析技术在古代陶瓷器科学研究中的应用 | 刘松 中国科学院上海光学精密机械研究所 副研究员 |
点击观看 | 动态二次离子质谱仪DSIMS在半导体材料检测中的应用 | 高钟伟 甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司 技术工程师 |