硅压力传感器芯片参数测试仪
二、测试仪简介
1、BE-CP100硅压力传感器芯片参数测试仪主要特点:
★在原测试仪基础上采用PLC控制,效率更高,工作更可靠。
★采用最新触摸屏显示和调节,不用调节旋钮,设置更方便。
★采用4U标准机箱,便于与自动探针工作台配合使用。
★留有串口、USB口、网络接口,便于与自动探针工作台扩展通讯。
★设有手动测试分析模式和自动测试模式,满足不同使用要求。
★可存储测试结果20000条,可扩展参数统计统计分析功能。
三、测试仪技术参数
(1)压力传感器芯片测试仪的技术指标正反向击穿电压:
可设置范围:电流:1~1000nA,可测试范围:电压10~100V
(2)正反向漏电流:
可设置范围:电压10~100V,可测试范围:电流:1~1000nA
(3)正反向失调电压:
可设置范围:电流:500~5000μA,可测试范围:±200mV,上限、下限可单独设定。
(4)四个电阻:
可设置范围:电流:500~2000μA,可测试范围:600~10000Ω,上限、下限可单独设定,四个电阻有独立选择按键。
(5)人机界面采用彩色触摸显示屏,参数设置不用旋钮调节。
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