天恒科仪(苏州)光电技术有限公司专注于高精度测试测量系统和设备的研发、设计、生产、销售。为科研到量产的测试测量提供一站式解决方案
03探针台配件
微定位探针座：
- 功能定位：
- 移动范围：全系支持 12mm × 12mm × 12mm 三轴无回差精密位移
- 吸附方式：均采用磁性可开关底座
- 探针兼容性：支持四类夹具
- 三同轴、同轴、高压、大电流
天恒科仪-微定位探针座
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夹具电缆：
- 功能定位：专业弱电流信号输出、全系列聚焦 100fA级超低漏电精度测试场景，专为半导体微电流/高阻抗器件设计。
- 全线支持 50Ω特性阻抗，保障信号运输的完整性。
天恒科仪-夹具电缆
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测试夹具：
- 功能定位：提供芯片引脚与测试机间的低阻抗、高稳定性信号传输路径。
- 精准定位BGA/QFN/CSP等封装芯片，确保测试接触零位移。
- 部分型号支持-55℃~150℃高低温测试。
- 测试场景：芯片烧录专用、功能参数测试、老化寿命测试
直流探针：
- 材质：高纯度固体钨针
- 长度：标准1.26英寸
- 包装：5根/盒装
- 镀镍选项：可选表面镀镍，增强耐腐蚀性
- 测试场景：晶圆级参数测试、FIB修复后电极接触、敏感芯片点测、高震动环境
天恒科仪-夹具探针
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开尔文探针：
- 名称：同轴探针支架
- 功能定位：实现 10fA级（0.01pA）超低电流测量，专为精密电性测试场景设计
- 名称：同轴替换针尖
- 功能定位：提供灵活定制与高兼容性 的探针尖端解决方案
天恒科仪-开尔文探针
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探针卡：
- 垂直式探针卡：
- APOLLO：支持40微米超细间距、64K+高密度探针及1.8A/针大电流，专攻服务器芯片/Al/AP铜柱/凸点量产测试；Kepler MEMS：适配-40℃~150℃严苛环境，2D垂直弹簧设计减少焊盘损伤，保障车规芯片接触电阻稳定性；垂直针式：行业顶级细间距，宽温多芯片并行测试，优化SoC/微控制器高频信号测量。
- 悬臂式探针卡：
- 标配款支持40μm间距与20/40μm交错设计，3GHz高频带宽满足DDR5等高速芯片测试；
- 低温版适配薄膜/Low-k/CUP敏感材料，可定制针尖规格延长使用寿命，专注存储芯片（30μm起）量产。
- MEMS垂直弹簧探针卡：
- 光刻3D螺旋弹簧实现单针秒级更换，散射干扰最小化，针对先进SoC/微处理器倒装芯片测试提供精密高频直连方案。
天恒科仪-探针卡
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射频探针：
- 高频探针系列：
- 频段：40GHz（DC-40GHz）、67GHz（DC-67GHz）、110GHz（DC-110GHz）
- 触点形式：GSG（标准单端）、GSSG（双信号差分）、SG（单地）等，支持非标定制
- 间距：100~1250μm
- 后缀：
- LL（低频优化）、DF（刀锋针尖，<30μm触点）、SH（弹孔抗疲劳设计）
- AJ（间距可调）、NS（非标定制）、MW/TU2（高频/无频探针）
天恒科仪-射频探针
天恒科仪-射频探针
天恒科仪-射频探针
天恒科仪-射频探针
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校准基板：
- 型号：THK-GSG/THK-GSSG校准基板
- 功能定位：SOLT（短路-开路-负载-直通）校准
- 精度：阻抗误差±0.3%，氧化铝材质，金焊盘防腐蚀
天恒科仪-校准基板
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手持探头：
- 型号：THK-Single/Differential Handheld Probe-AJ
- 特性：间距400~4000μm，温域-55℃~125℃，支持单端（GSG）或差分（SS）信号
天恒科仪-手持探头
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高温卡盘：
- 控温方式：开放式液氮制冷
- 温度范围：
- 标准款：-60℃ ~ +300℃
- 卡盘尺寸：8英寸/12英寸
高低温卡盘：
- 控温方式：空气制冷
- 温度范围：
- 高温款：-50℃ ~ +300℃
- 宽温款：-60℃ ~ +200℃
天恒科仪-高低温卡盘
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